Nikon Logo

NIKON ECLIPSE MA200 INVERSES MIKROSKOP

Nikon MA200

Inverses Mikroskop

Inverse Mikroskope, die für ihre Kompaktheit und Langlebigkeit bekannt sind, eignen sich ideal für Aufgaben mit hoher Vergrößerung und für die Analyse von eingebetteten Proben mit flachen Oberflächen. Außerdem bieten sie Vielseitigkeit durch die Anpassung verschiedener Lichtquellen für unterschiedliche Analysemethoden. Das inverse Mikroskop Nikon Eclipse MA200 zeichnet sich durch hohe Stabilität und eine geringere Stellfläche im Vergleich zu herkömmlichen Modellen aus. Sein Design erleichtert den Zugang zu wichtigen Komponenten wie dem Tischgriff, dem Objektivrevolver, dem BF/DF-Wechselhebel und den Blenden, die alle bequem an der Vorderseite angebracht sind.

Dieses System bietet:

  • Ergonomisches Design für einen einfachen Zugriff auf alle Bedienelemente an der Vorderseite des Gerätes
  • DIC-Konfiguration mit intelligentem Objektivrevolver, der das gewählte Objektiv an der Vordereite des Gerätes anzeigt
  • Strichplatte zur Korngrößenbestimmung und Messstrichplatte, die sowohl im Okular als auch im Strahlengang zur Kamera erscheinen.
Inverse/Aufrechte Konfigurationsvergleich
MA100N MA200
Beobachtungsmethoden HF Einfach polarisierend HF, DF, DIC & POLL
Beleuchtungen Hochintensive weiße LED Halogen-Lampengehäuse mit 50W-Leuchte
Nikon Authorized Dealer

OmniMet® Bildgebungs- und Analysesoftware

Das OmniMet-System integriert Mikroskope, Kameras und Bildanalysesoftware über eine intuitive Benutzeroberfläche. Sie können die Bilder Ihres Mikroskops einfach anzeigen und analysieren oder sie zur präzisen Analyse in OmniMet importieren. Mit flexiblen Funktionen und Analysefähigkeiten erfüllt OmniMet die unterschiedlichsten messtechnischen Anforderungen an die Archivierung von Bilddaten und die quantitative Analyse.
OmniMet® Bildgebungs- und Analysesoftware

Point-and-Click-Bildauswertung

  • Führen Sie einfache bis komplexe Messungen mit intuitiven Menüoptionen durch
  • Reduzieren Sie Arbeitsschritte mit anwendungsspezifischen Modulen und Skripten
  • Einhaltung nationaler Standards mit nur einem Mausklick

Automatisierte Bildgebung und -analyse

  • Erstellen Sie vorprogrammierte Skripte oder führen diese aus, um sich wiederholende Schritte zu reduzieren.
  • Verbessern Sie die Qualitätskontrolle, indem Sie jedes Mal den gleichen Prozess befolgen
  • Automatischer Export von Daten nach Word oder Excel

Flexibles, modulares System

  • Wählen Sie aus einer Vielzahl von Modulen und Skripten, die Sie an Ihre Anwendung anpassen können
  • Wählen Sie den Grad der Ausbaustufe aus sechs verschiedenen Versionen
  • Funktionalität kann jederzeit von einer Version auf eine andere aktualisiert werden

Nahtlose Integration

  • Anschluss an eine Vielzahl von Kameras, Mikroskopen und motorisierten Objekttischen
  • Kalibrierung der aufgenommenen Bilder auf die Vergrößerung der Ausrüstung
  • Als System für eine schlüsselfertige Lösung kaufen

Bestellen

Nikon MA200 bestellen
Artikelnummer Konfiguration Angebot anfordern
8744-01 Nikon MA200 HF Inverses Mikroskop - mit Trinokulartubus, 10x Okularen, LV-TV-Kameraausgang am Gehäuse und Tubus (Kameraadapter erforderlich), Halogen-Lampengehäuse mit 50W-Halogenlampe, manuellem XY-Kreuztisch mit Einsatz (50 x 50 mm Verfahrweg), 6-fach-Revolver, 5x, 10x, 20x und 50x Epi Plan Fluor HF Objektive und Staubschutzhülle. Angebot anfordern
8744-02 Nikon MA200 BD/DF Inverses Mikroskop - mit Trinokulartubus, 10x Okularen, LV-TV-Kameraausgang am Gehäuse und Tubus (Kameraadapter erforderlich), Halogen-Lampengehäuse mit 50W-Halogenlampe, manuellem XY-Kreuztisch mit Einsatz (50 x 50 mm Verfahrweg), 5-fach-Revolver, 5x, 10x, 20x und 50x Epi Plan Fluor HF Objektive und Staubschutzhülle. Angebot anfordern
8744-03 Nikon MA200 HF/DF/DIC Inverses Mikroskop - mit Trinokulartubus, 10x Okularen, LV-TV-Kameraausgang am Gehäuse und Tubus (Kameraadapter erforderlich), Halogen-Lampengehäuse mit 50W-Halogenlampe, manuellem XY-Kreuztisch mit Einsatz (50 x 50 mm Verfahrweg), Polarisator/Analysator, DIC-Prisma, 5-fach-Revolver, 5x, 10x, 20x und 50x Epi Plan Fluor HF/DF-Objektive und Staubschutzhülle. Angebot anfordern
Ähnliche Produkte
Ideal für einfache Polarisations- und Hellfeldbeobachtungen. Die Bedienung ist einfach und kann in jeder Qualitätskontrollabteilung oder in der Materialprüfung eingesetzt werden.
Entwickelt für die Analyse großer Proben und multifokale Bildgebung mit hoher Auflösung, einem hohen Zoombereich von 0,75–13,5x und Makrovergrößerung von Teilen.
Mit hoher Auflösung und Makrovergrößerung von Teilen, ideal für große Proben, bei denen ein großer Bildausschnitt für die Probenanalyse und multifokale Bildgebung benötigt wird.
Ein vielseitiges aufrechtes Mikroskop mit LED-Beleuchtung für Hellfeld-Mikroskopieanwendungen, perfekt für hohe Vergrößerungsanforderungen bei Proben, die nicht flach oder eingebettet sind.
Mikroskop-Zubehör
Im Lieferumfang des DIC-Pakets enthalten
Schieberegler für Korngrößenbestimmung
5x, 10x, 20x, 50x, 100x
Beinhaltet Tischeinsätze für 1in, 1.125in, 1.5in
Beinhaltet 25mm, 30mm, 40mm Tischeinsätze
C-Mount, 0,55x, LV-TV, für Kameras mit 1/2″-Chipgröße
C-Mount, 0,7x, LV-TV, für Kameras mit 2/3″-Chipgröße
C-Mount, 1x LV-TV, für Kameras mit 1″-Chipgröße
Kompatibel mit OmniMet Software und Buehler Nikon-Angebot
Produkt-Literatur
Komplettlösungen für die Metallographie im Labor
Finden Sie Ihre Lösung
Komplettlösungen für die Metallographie im Labor
Stöbern Sie in unserem Abschnitt Lösungen, um technische Artikel zu lesen, empfohlene Verarbeitungsmethoden zu finden, Branchenlösungen zu betrachten und vieles mehr.
Benötigen Sie noch zusätzliche Hilfe?
Möchten Sie Ihre Prozesse verbessern? Holen Sie sich persönliche Hilfe von unseren Anwendungsexperten
Kontaktieren Sie das Labor-Team
Kontaktieren Sie das Labor-Team
Kontaktieren Sie unseren Customer Service
Kontaktieren Sie unseren Customer Service
Quick Links
Schneller Zugang zu wichtigen Informationen oder zu unserem Online-Shop
Buehler Literature
Produktkatalog

Alle Produkte im Buehler Produktkatalog ansehen

Methoden nach Material sortiert
Methoden nach Material sortiert

Finden Sie zu Ihrem Material passende Methoden

SDS Sicherheitsdatenblätter
SDS Sicherheitsdatenblätter

Sicherheitsdatenblätter von Buehler durchsuchen

Produkt-Literatur
Produkt-Literatur

Durchsuchen Sie die Buehler Produkt-Literatur

Buehler Solutions for Metallography Testing and Analysis
Alle Produkte