Bildgebung und Analyse

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Bildgebung und Analyse mit Leichtigkeit

Buehler bietet mit OmniMet® komplette Bildgebungs- und Analyselösungen an, die nahtlos in Nikon®-Mikroskope integriert sind. Das System kombiniert analytische Leistung mit unvergleichlicher Benutzerfreundlichkeit und bietet eine einfache und dennoch hochflexible Lösung für fortschrittliche Mikroskopieanwendungen.
OmniMet digitale Bildauswertung

Bildanalyse-Software

Die Software bietet leistungsstarke Bildanalysemöglichkeiten in Kombination mit flexiblen Datenbankfunktionen.

OmniMet®-Software

OmniMet®-Software
Das OmniMet-System verbindet Mikroskope, Kameras und Bildanalysesoftware nahtlos über eine intuitive Schnittstelle. Betrachten Sie Bilder im Standardformat direkt von einem kalibrierten Mikroskop oder importieren Sie sie zur Analyse in OmniMet. Mit unterschiedlichen Flexibilitäts-, Funktionalitäts- und Analysefähigkeiten erfüllt OmniMet die unterschiedlichsten messtechnischen Anforderungen an die Archivierung von Bilddaten und die quantitative Analyse. Passen Sie OmniMet mithilfe benutzerfreundlicher programmierter Module oder Anwendungsskripte an, um maßgeschneiderte Funktionen zu erhalten.

Stereomikroskope

Buehler bietet Stereomikroskope von Nikon mit hoher Auflösung und Makrovergrößerung von Teilen. Perfekt für die Analyse großer Proben und die multifokale Bildgebung.

Nikon SMZ800N Stereomikroskop

Nikon SMZ800N Stereomikroskop
Das Nikon SMZ800N bietet eine hohe Auflösung und eine Makrovergrößerung von Teilen. Dieses Stereomikroskop ist ideal für große Proben, bei denen ein großer Bildausschnitt für die Probenanalyse und die multifokale Bildgebung erforderlich ist.

Nikon SMZ18 Stereomikroskop

Nikon SMZ18 Stereomikroskop
Das Nikon SMZ18 ist für die Analyse großer Proben und für die multifokale Bildgebung konzipiert. Das Nikon SMZ18 hat eine hohe Auflösung, einen großen Zoombereich von 0,75 – 13,5x mit mehreren Raststufen und eine Makrovergrößerung von Teilen.

Inverse Mikroskope

Inverse Mikroskope sind kompakt, langlebig und für hohe Vergrößerungsanforderungen geeignet. Sie sind ideal für die Analyse von eingebetteten Proben mit flachen Probenoberflächen und sind mit mehreren Lichtquellen ausgestattet für Variation in der Analyse.

Nikon Eclipse MA100N Inverses Mikroskop

Nikon Eclipse MA100N Inverses Mikroskop
Das kompakte inverse Mikroskop Nikon MA100 ist ideal für einfache polarisierende und Hellfeldbeobachtungen. Es ist einfach zu bedienen und kann in jeder Qualitätskontrollabteilung oder in der Materialprüfung eingesetzt werden.

Nikon Eclipse MA200 Inverses MiKroskop

Nikon Eclipse MA200 Inverses MiKroskop
Das Nikon MA200 Eclipse ist ein kompaktes und robustes inverses Mikroskop für hohe Vergrößerungsanforderungen. Dieses inverse Forschungsmikroskop ist ideal für flache, eingebettete Proben und ist in den Ausführungen BF, DF, DIC und POL mit Halogenbeleuchtung erhältlich.

Aufrechte Mikroskope

Aufrechte Mikroskope sind für Auflicht- und/oder Durchlichtpolarisation geeignet. Perfekt für hohe Vergrößerungsanforderungen bei Proben, die nicht flach oder eingebettet sind.

Nikon Eclipse LV150N Aufrechtes Mikroskop

Nikon Eclipse LV150N Aufrechtes Mikroskop
Das Nikon Eclipse LV150N ist ein vielseitiges aufrechtes Mikroskop mit LED-Beleuchtung für Anwendungen in der Hellfeldmikroskopie. Das Nikon Eclipse LV150N ist ideal für hohe Vergrößerungsanforderungen bei nicht flachen oder nicht eingebetteten Proben.

Mikroskop Zubehör

Entdecken Sie das erforderliche und optionale Zubehör für die Bildgebung und Bildanalyse.

Digitalkameras

DIGITALKAMERAS FÜR BILDGEBUNG UND ANALYSE
Schließen Sie eine Kamera an jedes konfigurierte Mikroskop an, um mit OmniMet Digital Imaging Solutions die Bildschirmanzeige und quantitative Analyse zu ermöglichen.

Motorisierte Kreuztisch-Kits

MOTORISIERTE KREUTISCH-KITS FÜR BILDGEBUNG UND ANALYSE
Zur Verwendung mit dem MA100 und MA200. Enthält Kreuztisch, Fokusantrieb, Controller und 3-Achs-Joystick.

Objektstrichmaßstäbe

OBJEKTMIKROMETER FÜR BILDGEBUNG UND ANALYSE
Objektträger mit einer fein unterteilten Skala zur Kalibrierung optischer Systeme.

Computer und Monitore

Rechner und Monitore für Bildgebung und Analyse
24″ Touch-Monitore und Windows-kompatible Workstations

Nivellierzubehör für aufrechte Mikroskope

Nivellierzubehör für aufrechte Mikroskope
Mit diesem Werkzeug für aufrechte Mikroskope bleibt das Bild scharf, während die Probe auf dem Objekttisch bewegt wird.

Nikon Objektive

Nikon Objektive
Sie wurden im Laufe einer 100-jährigen Geschichte der Weiterentwicklung entwickelt und lassen sich nahtlos in jedes von Buehler angebotene Nikon-Stereomikroskop, inverse oder aufrechte Mikroskop integrieren.

Leitfaden zur Konfiguration von Mikroskopen

Die Auswahl und Konfiguration eines Mikroskops für die Probenanalyse ist ein entscheidender Schritt. Buehler bietet zwei Hauptkategorien von Mikroskopen an: Stereo für ein breites Sichtfeld (FOV) und Feststoff für besonders hohe Vergrößerung. Die Auswahl hängt von der Größe der Probe und den gewünschten Informationen ab. Die weitere Anpassung berücksichtigt Faktoren wie Auflicht oder Durchlicht, Beobachtungsmethode (BF, DF, DIC oder POL), bevorzugte Beleuchtung (Halogen oder LED) und ob die Primärproben eingebettet sind.
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